martes, 2 de junio de 2009

Fiabilidad

En este capítulo se abordará las expresiones matemáticas básicas para el estudio de la Fiabilidad.

Se abordará el estudio de los fallos que se producen aleatoriamente durante el funcionamiento de los sistemas y dispositivos, con objeto de prevenir consecuencias, establecer periodos de garantía y planear operaciones de mantenimiento.

Se entiende por fiabilidad de un componente, producto o dispositivo, a la probabilidad de que funcione correctamente, al menos, durante un tiempo especificado, en su aplicación prevista.

Se entiende por tiempo de fallo de un componente, producto o dispositivo, al tiempo que está funcionando hasta que se produce un fallo (T es una variable aleatoria que toma valores no negativos).


Función de Fiabilidad.

Se llama función de fiabilidad (o de supervivencia) de un componente, producto o dispositivo, a la función R: [0, ∞) pertenece a los números reales, definida como:

R(t) = P(T > t) = 1 - F(t)

Donde, F(t) es la función de distribución del tiempo de fallo.

Propiedades:

1. R(0) = 1 - F(0) = 1.
2. R(t) es una función decreciente.
3. Cuanto t → ∞, entonces, R(t) = 0


Esperanza de Tiempo de Fallo.

Denominado por las siglas: MTTF (mean time to failure), es expresada por:



Donde f(t), es la función de densidad de probabilidad de T.


Tasa de Fallo.

Se llama tasa de fallo de un componente, producto o dispositivo, a la función R: [0, ∞) pertenece a los números reales, definida como:



Donde f(t), es la función de densidad de probabilidad de T.

La representación gráfica de la tasa de fallo frente al tiempo es:




Distribución Exponencial
.

· Función de Fiabilidad: R(t) = 1- F(t) = e-k·t para t ≥ 0.
· Función de Densidad de Probabilidad: f(t) = k·e-k·t para t ≥ 0.
· Tasa de Fallo: Z(t) = 1/β es constante para cualquier valor de t positivo.

Donde β = 1/k.


Distribución de Weibull.

Una variable aleatoria continua X, cuya función de densidad de probabilidad es de la forma:



Se dice que tiene una distribución de Weibull de parámetros α y β. Se representa por: X ~ W(α, β).

Donde:

· α Parámetro de forma.
· β Parámetro de escala.

Tanto α como β deben ser positivos.

· Función de Fiabilidad: R(t) = 1- F(t) = e-tα
· Tasa de Fallo: Z(t) = (α/β)·eα-1


Distribución de Gompertz.

Una variable aleatoria continua X, cuya función de densidad de probabilidad es de la forma:



Se dice que tiene una distribución de Gompertz de parámetros k y λ. Se representa por: X ~ G(k, λ).

Tanto k como λ deben ser positivos.

· Función de Fiabilidad: R(t) = 1- F(t) = e(k/λ)·(1-eλ·t)
· Tasa de Fallo: Z(t) = k·eλ·t



Sistemas en Serie.

Es aquel cuyas unidades están conectadas entre sí de tal manera, que el fallo de una sóla de ellas implica el fallo del sistema completo.

Cada unidad de un sistema de este tipo se dice que está conectada en serie con las demás.

Un sistema en serie no es más fiable que la menos fiable de sus unidades.


Sistemas en Paralelo.

Es aquel cuyas unidades están conectadas entre sí de tal manera, que el sistema sólo falla si lo hacen todas sus unidades.

Cada unidad de un sistema de este tipo se dice que está conectada en paralelo con las demás.

Un sistema en paralelo es tan fiable como la más fiable de sus unidades.

A continuación, se disponen de una colección de problemas resueltos.

Problemas: Fiabilidad.
Problema 1
Problema 11
Problema 21
Problema 2
Problema 12
Problema 22
Problema 3
Problema 13
Problema 23
Problema 4
Problema 14

Problema 5
Problema 15

Problema 6
Problema 16

Problema 7
Problema 17

Problema 8
Problema 18

Problema 9
Problema 19

Problema 10
Problema 20

19 comentarios:

Anónimo dijo...

Te propongo un problema...
Dos unidades con distribucion de tiempo de fallo exponencial y tasas de fallos 0.001 horas-1 y 0.002 horas-1, estan conectadas en serie.
A) ¿ En que instante la fiabilidad del sistema habra decaido hasta un 80% de su valor inicial?



Mi pregunta es...
A la hora de utilizar R(t) = e (-t/B) ¿que valor le doy a R(t) como valor inicial para hacerle luego el 80%?
Gracias.
Un saludo.

Unknown dijo...

Buenas:

Vamos por partes:

Tenemos dos unidades con la siguiente tasa de fallos:

· Unidad 1: λ1 = 0.001
· Unidad 2: λ2 = 0.002

La función de fiabilidad para cada unidad por separado será de:

· Unidad 1: R1(t) = e^(-0.001·t)
· Unidad 2: R2(t) = e^(-0.002·t)

Dichas unidades están conectadas en serie, por lo que la función de fiabilidad del sistema en serie será:

· R(t) = R1(t)·R2(t) = e^(-0.003·t)

Llegados a este punto, el problema nos pregunta en que instante la fiabilidad del sistema habrá decaído hasta un 80% de su valor inicial, dicho o expresado de otra manera:

· ¿En que instante de t la fiabilidad del sistema es de un 80%?

Es fácil, ya que tenemos la función de fiabilidad del sistema:

· R(t) = e^(-0.003·t) = 0.8

Despejamos la variable t mediante logaritmo neperiano en ambas partes de la igualdad:

· t ≈ 7.438118 horas.

¿Qué quiere decir esto? Pues que en el instante, aproximadamente, de 7.44 horas, el sistema presentará una fiabilidad de 0.8 (es decir, del 80%).

Un saludo.

Anónimo dijo...

Un problema:
Un equipo electronico consta de una fuente de alimentacion redundante, una tarjeta controladora y una tarjeta de comunicacion, con los siguentes valores MTBF:
F alimentacion 1... 100000 h.
F alimentacion 2... 100000 h.
Tarjeta controladora... 200000 h.
Tarjeta de comunucaciones... 500000h.
a) Calcular la tasa de Fallos (MTBF) del equipo electronico
b) Para un valor MTTR de 8h., calcular la disponobilidad del sistema.
Muchas Gracias

Unknown dijo...

Buenas:

Supongo que el problema no es de una asignatura propia de estadística sino de un apartado de fiabilidad de otra asignatura.

Te lo digo por la terminología empleada.

Antes que nada, vamos a ver las definiciones de los términos:

· MTTF ≡ Tiempo medio hasta un fallo
· MTBF ≡ Tiempo medio entre fallos

Las siglas MTBF se emplean en sistemas que son reparados continuamente después que se produzcan fallos y continúan funcionando.

Si la variable sigue una Distribución Exponencial, tenemos que:

· MTBF = MTTF

Bien, aclarados los conceptos, el sistema que tenemos es el siguiente:

---|A/B|---|C|---|D|---

Donde:

· A ≡ Fuente de Alimentación 1
· B ≡ Fuente de Alimentación 2
· C ≡ Tarjeta Controladora
· D ≡ Tarjeta de Comunicaciones

Interpreto que A y B están en paralelo por mencionar el enunciado del problema que son redundantes, mientras que el resto está en serie.

Sin prestar atención todavía, a lo que nos pide el problema, vamos a obtener la función de fiabilidad para cada elemento, por definición:

· R(t) = e^(-Z(t)·t)

Donde:

· Z(t) ≡ Tasa de Fallos

La Tasa de Fallos, al seguir sus elementos una distribución exponencial, está relacionada con el MTBF (= MTTF) de la siguiente manera:

· Z(t) = 1/MTBF

Por lo tanto, obtenemos cada función de fiabilidad de cada componente (voy a emplear el programa wxMaxima para apoyarme en los cálculos):

· R_A: %e^(-0.00001*t)
· R_B: %e^(-0.00001*t)
· R_C: %e^(-0.000005*t)
· R_D: %e^(-0.000002*t)

Vamos a obtener la función de fiabilidad del sistema completo, empezamos con los elementos en paralelo:

· R_AB: 1-(1-R_A)*(1-R_B)

Y el sistema que tenemos será el siguiente:

---|AB|---|C|---|D|---

Un sistema serie, por lo que la función de fiabilidad del sistema completo será:

· R: R_AB*R_C*R_D

Dando como resultado:

· R(t) = e^(-0.000027·t)·[2·e^(0.00001·t)-1]

Bien, el primer apartado mezcla dos términos que no son lo mismo (como ya hemos visto anteriormente) y son: Tasa de Fallos (Z(t)) y MTBF.

Por lo tanto, ¿qué quieres hallar?, viendo el segundo apartado, supongo que quieres hallar el MTBF.

Y por definición es (teniendo en cuenta que sigue una Distribución Exponencial):

· MTBF = MTTF = ʃR(t)dt

· NOTA: La integral está definida entre 0 e infinito.

Por lo tanto:

· MTBF: integrate(R, t, 0, inf)

Dando como resultado:

· MTBF = 37000000/459 ≈ 80610.02178649238 horas

Para el segundo aparatado, aunque no entre dentro de la temática de éste capítulo, es, por definición:

· Disponibilidad del sistema = (MTBF - MTTR)/MTBF

Sustituimos valores:

· Disp. Sistema = (80610.02178649238 - 8)/80610.02178649238 ≈ 0.99990075675676

Un saludo y espero haberte ayudado.

Anónimo dijo...

Esa pregunta me salio en un examen de universidad. Muchas Gracias.

Anónimo dijo...

Buenos dias,

queria preguntar si Aqueronte podria resolver una relacion de problemas de examenes de estadistica. Serian unos 10-12 aproximadamente y son de fiabilidad, capacidad del proceso y muestreo. Por supuesto seria pagando claro. Necesitaria saberlo lo antes posible porque el examen es pronto. Gracias

Unknown dijo...

Buenas:

No tenemos implantado todavía, ningún método de pago por resolver problemas, simplemente, tenemos a disposición del usuario, el botón de donaciones mediante PayPal.

Respecto a la solución de los problemas, en estos momentos estoy de vacaciones y me va a ser muy difícil conectarme a Internet y resolverlos, te sugiero que busques problemas aquí expuestos que se asemejen a los que tienes y preguntes las dudas que te puedan surgir.

En caso de problemas concretos, puedes poner el enunciado en el sitio adecuado y si tengo un tiempo muerto, lo puedo revisar.

Un saludo y gracias por tu atención.

Anónimo dijo...

Lo del paypal me parece bien. Entonces aqui voy con uno de los ejercicios.
Un dispositivo tiene un tiempo de fallo (en miles de horas) cpn distribución exponencial de media β=1.5. Otro dispositivo tiene tiempo de fallo con distribución de Weibull de parámetros β= 1.5 y α=3.
a. En qué instante además del inicial tiene ambos la misma fiabilidad? Compruebe a partir de ese instante, que el primero es siempre mas fiable que el segundo.
b. Calcule la tasa de fallos de ambos dispositivos
c. En que instante tienen ambos la misma tasa de fallos?
d. Cuál de los dos tiene mayor tasa de fallos en el instante del apartado a?
e. Si se conectan los dos en serie, cuál es su tasa de fallos en el instante del apartado a? Compare los resultados con los del apartado anterior

Unknown dijo...

Buenas:

Hacemos una recopilación de los datos que nos ofrece el enunciado del problema:

· Dispositivo 1:

· Sigue una distribución Exponencial, con parámetro: β = 1.5.

Por lo tanto, su función de fiabilidad, por definición, es:

· R1(t) = e^(-t/β) = e^(-t/1.5)

· Dispositivo 2:

· Sigue una distribución Weibull, con parámetros: β = 1.5 y α = 3.

Por lo tanto, su función de fiabilidad, por definición, es:

· R2(t) = e^[-t^(α)/β] = e^[-t^(3)/1.5]

En estos momentos, estamos en disposición de abordar los distintos apartados del enunciado del problema.

Apartado a)

Que tengan la misma fiabilidad significa igualar ambas funciones de fiabilidad:

· R1(t) = R2(t)

Sustituimos:

· e^(-t/1.5) = e^[-t^(3)/1.5]

Aplicamos logaritmo neperiano en ambas partes de la igualdad:

· -t/1.5 = -t^(3)/1.5

Simplificamos y ordenamos:

· -t^(3) + t = 0

Agrupamos:

· t·[1 - t^(2)] = 0

Las soluciones son:

· t1 = 0
· t2 = ± 1

Por lo tanto, el instante en que ambos dispositivos tienen la misma fiabilidad es cuando t = + 1 (en miles de horas).

Para comprobarlo, escogemos un valor pequeño cercano:

· R1(1.01) = e^(-1.01/1.5) ≈ 0.5100057

· R2(1.01) = e^[-1.01^(3)/1.5] ≈ 0.503150

Podemos corroborar que el dispositivo 1 tiene más fiabilidad que el dispositivo 2.

Apartado b)

Te dejo un problema donde podrás obtenerla:

· Problema 1: Apartados b y c.

Apartado c)

Cuando tengas las tasas de fallos de ambos dispositivos, debes igualarlas (al igual que en el Apartado a)), y despejar el parámetro t.

· NOTA: Para el dispositivo 1, la tasa de fallos no depende del tiempo sino que es constante, esto es así, ya que es una propiedad de la distribución exponencial.

Apartado d)

Una vez tengas las tasas de fallos de ambos dispositivos (obtenidas en el Apartado b)), sustituye por t = 1.

Apartado e)

Al estar conectados en serie ambos dispositivos, debes obtener la función de fiabilidad del sistema completo:

· R(t) = R1(t)· R2(t)

Y posteriormente, hacer de nuevo, los pasos del Apartado b) y una vez obtenida, sustituir por t = 1.

No te he resuelto los demás apartados ya que creo que son fáciles y además, tienes suficiente material en los problemas del blog para abordarlos.

Si tienes alguna duda respecto a algunos de ellos, pregúntala.

Un saludo.

Anónimo dijo...

Muchisimas gracias!!! que rapidez! un saludo

Anónimo dijo...

Me podrias ayudar con este? Es el ultimo de fiabilidad.
Un sistema esta compuesto por 100 componentes del mismo tipo conectados en serie. La tasa de fallos de cada una es –ln0.98 fallos por unidad de tiempo (=1000h)
a. Calcule la fiabilidad del sistema y explique razonadamente si este tiene o no carencia de memoria.
b. En paralelo ocn cada unidad del sistema anterior se conecta otra cuya tasa de fallos es 0.5t^-0.5 fallos por cada 1000h. Calcule la fiabilidad del nuevo sistema.
Muchisimas gracias!

Unknown dijo...

Buenas:

Obtengamos los datos del enunciado del problema:

· Sistema compuesto por 100 componentes del mismo tipo y conectados en serie.

· Tasa de fallos de cada componente es: Z(t) = - ln(0.98) por unidad de tiempo (1000 horas).

Bien, en estos momentos podemos sacar las siguientes conclusiones:

· El tiempo de fallos de cada componente sigue una distribución exponencial, ya que su tasa de fallos es constante (no depende del tiempo). Lo demostramos:

· Z(t) = - ln(0.98) ≈ 0.020203 por unidad de tiempo (1000 horas). Como vemos, la tasa de fallos es constante para cualquier valor de t.

Por lo tanto, la función de fiabilidad de cada componente es, por definición:

· R1(t) = e^[- t·[-Ln(0.98)]] = e^[t·(Ln(0.98))]

Al estar los componentes conectados en serie (100 de ellos), la función de fiabilidad del sistema completo es la siguiente:

· Rtotal(t) = R1·R2···R99·R100 = R^100

Sustituimos:

· Rtotal(t) = e^[t·(Ln(0.98))]·e^[t·(Ln(0.98))]···e^[t·(Ln(0.98))]·e^[t·(Ln(0.98))]

Simplificamos:

· Rtotal(t) = e^[100t·(Ln(0.98))]

El sistema carece de memoria por seguir una distribución exponencial.

De una manera probabilista, quiere decir que, para carecer de memoria se debe dar la siguiente igualdad:

· P(t < X + y| t > X) = P(t < y)

Vamos a comprobarlo:

· P(t < X + y| t > X) = P(X < t < X + y)/P(t > X)

Sustituimos por nuestra función de fiabilidad:

· P(t < X + y| t > X) = [(1 - R(X + y)) - (1 - R(X))]/[1 - (1 - R(X))]

Simplificamos:

· P(t < X + y| t > X) = [- R(X + y) + R(X)]/[R(X)] = 1 - R(X + y)/R(X)

Teniendo en cuenta que nuestra función de probabilidad es la siguiente:

· Rtotal(t) = e^[100t·(Ln(0.98))]

Sustituimos:

· P(t < X + y| t > X) = 1 - (e^[100·(X + y)·(Ln(0.98))])/(e^[100·X·(Ln(0.98))])

Al ser una división entre exponenciales, sus exponentes se restan, por lo tanto, nos queda:

· P(t < X + y| t > X) = 1 - e^[100·y·(Ln(0.98))]

Que en notación de probabilidad es:

· P(t < X + y| t > X) = 1 - e^[100·y·(Ln(0.98))] = P(t < y)

Por lo tanto, queda demostrado que el sistema carece de memoria.

Apartado b)

Recopilemos información del enunciado:

· Dispositivo 2 tiene una tasa de fallos de: Z(t) = 0.5t^(-0.5) (por cada 1000 horas)

Debemos obtener su función de fiabilidad, por teoría:

· R(t) = e^(-ʃZ(x)dx)

Vamos a resolver primero la integral:

· ʃZ(x)dx = ʃ0.5x^(-0.5)dx = [0.5/(1 - 0.5)]·x^(1 - 0.5)

· NOTA: Los límites de integración es entre 0 y t.

Por lo tanto:

· ʃZ(x)dx = t^0.5 = √t

Sustituimos para obtener nuestra función de fiabilidad del dispositivo 2:

· R2(t) = e^(-√t)

Bien, el enunciado de este apartado dice que los componentes 1 y 2 están conectados en paralelo, por lo tanto:

· Rparalelo(t) = 1 - (1 - R1)·(1 - R2) = 1 - (1 - e^[t·(Ln(0.98))])·(1 - e^(-√t))

Realizamos los cálculos:

· Rparalelo(t) = e^[t·(Ln(0.98))] - e^[- √t - t·(Ln(0.98))] + e^(-√t)

Ahora operamos como antes, al estar los componentes conectados en serie (100 de ellos), la función de fiabilidad del sistema completo es la siguiente:

· Rtotal(t) = Rparalelo1·Rparalelo2···Rparalelo99·Rparalelo100 = Rparalelo^100

Y deberás hacer el cálculo (te lo dejo para ti)

Un saludo.

Anónimo dijo...

Hola!
como se calcula la tasa de fallos en una distribucion de Weibull? He mirado el ejercicio 1 como me comentaste pero solo viene el caso de distribucion exponencial.
Gracias!!!

Unknown dijo...

Buenas:

Es de una distribución exponencial pero la metodología es la misma, primero obtienes la función de probabilidad (mediante la función de fiabilidad que ya tienes: R(t)) y después, para obtener la tasa de fallos aplicas la expresión matemática:

· Z(t) = f(t)/R(t)

Un saludo.

Anónimo dijo...

Hola,

muchas gracias! Y no podia aplicar esta formula? Z(t)= α/β(t/β)^(α-1). La he visto por mis apuntes y me dice que es la tasa de fallos de la distribucion Weibull.

Saludos

Unknown dijo...

Buenas:

Existen varias maneras de expresar la tasa de fallos de la distribución de Weibull (aunque todas son la misma, simplemente cambian la nomenclatura).

La que está en tus apuntes será totalmente válida, es más, la que nosotros tenemos en este capítulo es la siguiente:

· Z(t) = (α/β)·e^(α-1)

Y debe ser, a efectos finales, igual que la que tú mencionas.

Lo malo de estas expresiones es que debes sabértelas de memoria, es por eso que el procedimiento que te puse en el anterior comentario es, a mi modo de ver, mejor y más práctico a la hora de obtener la tasa de fallos, ya que no es difícil y siempre es igual para todas las distribuciones.

Un saludo.

Anónimo dijo...

Perfecto! muchisimas gracias!
Por cierto, tengo varias dudas con problemas de la parte de Control estadistico de la calidad: cartas de control. Lo digo aqui porque llevo un mes escribiendo en esa parte y nadie me responde y he pensado que igual no os llega el aviso de mis nuevos comentarios, ya que en esta parte siempre obtengo respuesta. Espero no resultar muy pesada, la proxima semana tendre ya mi examen. Gracias

Anónimo dijo...

Perdon, mi examen es esta semana! Le he escrito a mi profesor pero no me responde a las dudas y estoy desesperada. Gracias por todo.

Un saludo

Unknown dijo...

Buenas:

Siento decirte que como muy temprano podré ver los problemas que comentas la semana que viene.

Ya que estoy fuera por motivos profesionales-ocio y es difícil encontrar un tiempo muerto.

Generalmente, en estos momentos damos prioridad a los comentarios que presentan dudas puntuales, por el motivo que te he comentado anteriormente.

Siento no serte de ayuda, aún así, te deseo suerte en tu examen.